UFI 白光干涉儀
白光干涉儀---二階色散測(cè)量
超快激光對(duì)其光學(xué)元件特別是反射類型的光學(xué)元件，都要求對(duì)鍍膜引入的色 散具有良好的控制，但在實(shí)際應(yīng)用中，由于制造誤差的不可避免，實(shí)際結(jié)果與理 論設(shè)計(jì)一定會(huì)有偏差，GD和GDD對(duì)鍍膜的厚度非常敏感，即使使用最先進(jìn)鍍膜 技術(shù)，誤差也是不可能被完全消除的，所以對(duì)光學(xué)元器件的GD和GDD的準(zhǔn)確測(cè) 量有著至關(guān)重要的作用。德國(guó)Ultrafast Innovations的GOBI系列白光干涉儀，采用 光譜分辨干涉法精確測(cè)量可以幫助用戶獲得準(zhǔn)確的二階色散曲線。
技術(shù)特點(diǎn)：
? 可選波段：400-1060nm，250-1060nm和900-2400nm；
? 不需要參考激光和指定得反射率
? S和P偏振均可分別測(cè)量
? 強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處理軟件
? 測(cè)量結(jié)果與理論計(jì)算高度吻合 ? 快速簡(jiǎn)單的工作過程
GOBI測(cè)量的GDD與理論設(shè)計(jì)的比較。(a) 獨(dú)特的雙角度設(shè)計(jì)的超寬帶PC70（UFI生產(chǎn)的啁啾鏡），測(cè)量5°和19°法向入射角，以及平均值的結(jié)果。(b)紅外脈沖壓縮鏡PC1921的測(cè)試結(jié)果。(c)高色散的HD73反射鏡的結(jié)果（1030 nm時(shí)改 變-3000 fs2）。
與其他設(shè)備相比，GOBI白光干涉儀能夠測(cè)量強(qiáng)GDD振蕩。值得注意的是，例圖中測(cè)量曲線和理論曲線之間的差異反映了光學(xué)元件膜層制造過程中的公差。
GD(a)和GDD(b)是實(shí)際測(cè)量UV光束在鏡面的反射率(綠色曲線)和相應(yīng)的理論預(yù)測(cè)(紅線)的對(duì)比。
超寬帶的96層膜色散補(bǔ)償反射鏡的GD(c)和GDD (d)的實(shí)際測(cè)量(綠色)和理論數(shù)據(jù)(紅色)的對(duì)比。
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