Spectral Range 紫外(190 - 400 nm) 可見光 - 近紅外 (400 - 1100 nm) 短波紅外 (900 - 1700 nm) 中紅外 (3 - 5 µm) 遠紅外 (8 - 14 µm)
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Kaleo MultiWAVE
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Kaleo MultiWAVE
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Phasics在光學(xué)計量領(lǐng)域持續(xù)創(chuàng)新，推出能夠兼顧測量透射波前誤差和反射波前誤差（TWE / RWE）的革命性新產(chǎn)品：Kaleo MultiWAVE動態(tài)干涉儀。 直徑最高至5.1英寸（130毫米）的鍍膜和未鍍膜的光學(xué)器件可在其工作波長下直接進行測量。 Kaleo MultiWAVE是購買多臺干涉儀或特殊波長干涉儀的有效替代方案，擁有極高性價比。 該系統(tǒng)同時可提供媲美Fizeau干涉儀測量精度，及動態(tài)干涉儀的優(yōu)秀抗震性能。
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| 主要特點/優(yōu)勢： |
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| 示例應(yīng)用： |
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| 規(guī)格參數(shù)： |
| 系統(tǒng)指標 | |
| 光學(xué)系統(tǒng)結(jié)構(gòu) | 雙通路 |
| 測量能力 | 反射波前面型測量，或透明光學(xué)元件雙透射測量 |
| 單臺集成工作波長數(shù)量 | 標準1或2工作波長，最高可定制8工作波長 |
| 定制波長 | 193nm至14µm范圍內(nèi)任意波長，包含紫外波段266 nm、355nm、405nm，可見光及近紅外波段550nm、625nm、780nm、940nm、1050nm，短波紅外/中紅外/遠紅外 1.55µm、2µm、3.39µm、10.6µm等 |
| 有效口徑 | 5.1英寸（130mm） |
| 光學(xué)中心高度 | 108mm |
| 對準系統(tǒng) | 實時相位及澤尼克系數(shù)顯示 |
| 系統(tǒng)偏振 | 兼容消偏光學(xué)器件 |
| 視場角對準范圍 | +/- 2° |
| 可調(diào)對焦范圍 | +/- 2.5 m |
| 尺寸重量 | 910 x 600 x 260 mm³, 約25 kg |
| 抗震性 | 無需隔震 |
| 性能指標 (1) | |
| RMS重復(fù)性 (2) | < 0.7 nm (< λ / 900) |
| 可測反射率范圍 | 4% - 100% |
(1) 四英寸口徑，使用625 nm光源
(2) 在4英寸參考鏡上執(zhí)行36次連續(xù)測量，每一次測量使用均化值為16次。 參考定義為所有奇數(shù)測量的平均值。 RMS重復(fù)性定義為RMS平均差值，加上偶數(shù)測量值與參考之間差值的標準偏差的2倍。
