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飛秒光學元件
波量科技專注飛秒激光領(lǐng)域，為客戶提供完備的飛秒光學元器件。產(chǎn)品涵蓋飛秒激光反射鏡、啁啾鏡、XUV反射鏡、軟X-射線反射鏡、離軸拋物面鏡、輪胎鏡、反射式光柵、透射式光柵、平場光柵、薄膜偏振片、鈦寶石晶體、摻鐿激光晶體、非線性晶體、波片、偏振片等標準及定制化元器件種類。

超快激光器
波量科技提供超快板條激光放大器、碟片激光放大器、1550nm超穩(wěn)飛秒振蕩器、Turn-key鈦寶石振蕩器以及飛秒激光器定制服務。

飛秒測量設備
波量提供全面診斷飛秒激光脈沖物理參數(shù)（包含光譜信息、時間分布、空間相位、光譜相位、空間分布）的系列測量儀器。

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變形鏡-控制激光波前；Dazzler-控制脈沖形狀和光譜相位；脈沖選擇系統(tǒng)-控制和選擇偏振；信號發(fā)生器-控制脈沖時序。
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CRD高精度反射率測量儀

CRD高精度反射率測量儀

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我們的反射計GLACIER利用腔環(huán)降譜技術(shù)的極高靈敏度，可量化先進光學鍍膜的損耗，下降到5 ppm。

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超連續(xù)光源空腔消光反射儀

超連續(xù)光源空腔消光反射儀

超連續(xù)光源空腔消光反射儀

GLACIER利用極其敏感的腔環(huán)降譜法測量光學鍍膜的損失，可測量損失至5 ppm。因此，它經(jīng)常用于表征高反射鏡，傳統(tǒng)的反射和吸收測量不足以滿足要求。

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1064nm諧波反射&損耗測量儀

1064nm諧波反射&損耗測量儀

1064nm諧波反射&損耗測量儀

GLACIER®-123是UFI's®的GLACIER®系列的最新成員，設計為多波長系統(tǒng)。它是首個在355 nm波長下進行測量的儀器。它包括一個微芯片激光器，可以發(fā)射1064 nm、532 nm和355 nm的輻射，特別適用于需要這些諧波波長的用戶。

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PI-MTE3 大畫幅X射線相機

PI-MTE3 大畫幅X射線相機

PI-MTE3 大畫幅X射線相機

<p>PI-MTE3真空CCD相機專為VUV、EUV和X射線成像中的直接檢測而設計，其能量范圍大約為10 eV至30 keV。PI-MTE3中的背照式CCD提供了超過95%的峰值量子效率，高效的液體冷卻性能提供了低暗電流，從而促進了長曝光時間。四個部分的讀出架構(gòu)提供的幀率比上一代兩端口相機高7-10倍。</p>

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NIRvana? LN 科學SWIR機

NIRvana? LN 科學SWIR機

NIRvana? LN 科學SWIR機

<p>低溫冷卻的NIRvana®LN在靈敏度上是無可匹敵的。針對微弱的樣品，LN也能夠提供超過60分鐘的曝光時間。</p>

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NIRvana? 640 科學SWIR機

NIRvana? 640 科學SWIR機

NIRvana? 640 科學SWIR機

<p>NIRvana®640 SWIR相機的靈敏度可以幫您處理具有挑戰(zhàn)性的樣品。在超過10分鐘的曝光時間里，NIRvana®640的量子效率為85%，噪聲低，能讓您見所未見。</p>

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NIRvana? HS 科學SWIR機

NIRvana? HS 科學SWIR機

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<p>NIRvana®HS InGaAs焦平面陣列（FPA）SWIR相機是您的多功能科學成像解決方案，可提供高速成像和60秒以上的曝光時間。</p>

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ProEM? 背照式EMCCD

ProEM? 背照式EMCCD

ProEM? 背照式EMCCD

<p>ProEM®是一款高分辨率、背照式EMCCD，采用獨有的eXcelon™3傳感器技術(shù)，在紫外線-近紅外范圍內(nèi)具有高靈敏度，同時能夠減少Etaloning效應。憑借高達20 kHz的光譜率和單光子靈敏度，ProEM是高光譜拉曼成像、單分子熒光等弱光照度應用的理想選擇。</p>

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